当社は、国際ファッションセンター KFCホール（東京 両国）で2026年9月11日に開催される第33回パワー＆アナログデバイス解析研究会において、招待講演します。
本講演では、当社独自のGaN半導体フォトカソードを用いたMOSFETの非接触検査計測技術をご紹介いたします。本技術がもたらす、検査計測にとどまらない半導体解析への貢献可能性についてお伝えいたします。
■ 国際会議概要
•名称：第33回パワー＆アナログデバイス解析研究会
•開催日：2026年9月11日
•開催場所：国際ファッションセンター KFCホール（東京都墨田区）
■ 発表内容
•日時：2026年9月11日（金） 13:00～17:00
•タイトル：GaN半導体フォトカソードを用いたMOSFETの非接触検査計測技術
•発表者：佐藤 大樹（株式会社Photo electron Soul）