2022年３月16日（水）に開催される、第16回電子線応用技術研究会・先端計測技術研究会（EBAT・AM）に当社の西谷智博が登壇します。

招待講演日時：2022年３月16日（水）　14：00 ～ 14：45
場所：オンライン
テーマ：「Selective scanning electron microscope by photo electron beam from GaN semiconductor photocathode」
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