2025年11月11日から13日、大阪府豊中市の千里ライフサイエンスセンターで開催された「第45回ナノテスティングシンポジウム（NANOTS 2025）」において、当社と名古屋大学の共同研究チームによる発表が「Best Interested Paper Award」を受賞いたしました。
本賞は、全発表の中で最も参加者の関心を集めた論文に贈られるものです。
今回の受賞を励みに、当社は今後も電子ビーム技術の研究開発を通じて産業界の発展に貢献してまいります。
【受賞内容】
賞名： Best Interested Paper Award
題目： GaN半導体ベースの光電子ビーム技術を用いた電子線誘起によるMOSFETの局所的な電気的駆動のその場SEM観察 （In-situ SEM observation of electron beam-induced local electrical actuation of MOSFETs using GaN semiconductor-based photoelectron beam technology）
著者： 西谷 智博、佐藤 大樹、荒川 裕太、新美 浩太郎、小泉 淳、飯島 北斗（Photo electron Soul Inc.） 本田 善央、天野 浩（名古屋大学 未来材料・システム研究所）
NANOTS2025 表彰選出のお知らせ