世界的な光学・フォトニクス専門誌『Photonics Spectra』の半導体計測特集において、当社の計測技術が紹介されました。
記事内では当社CTOの西谷智博が次世代の計測技術について語っているほか、当社の技術的ブレークスルーについても詳述されています。
ぜひ記事全文にてご覧ください。